型號(hào): 更新時(shí)間:2024-11-09
透射掃描電鏡檢測(cè)生物學(xué)實(shí)驗(yàn) 常用的方法:超薄切片法、冷凍超薄切片法、冷凍蝕刻法、冷凍斷裂法等。對(duì)于液體樣品,通常是掛預(yù)處理過(guò)的銅網(wǎng)上進(jìn)行觀察。
供貨周期 | 現(xiàn)貨 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,環(huán)保,化工,生物產(chǎn)業(yè),農(nóng)業(yè) |
---|
透射掃描電鏡檢測(cè)生物學(xué)實(shí)驗(yàn)?介紹
透射電子顯微鏡在材料科學(xué)、生物學(xué)上應(yīng)用較多。由于電子易散射或被物體吸收,故穿透力低,樣品的密度、厚度等都會(huì)影響到后的成像質(zhì)量,必須制備更薄的超薄切片,通常為50~100nm。所以用透射電子顯微鏡觀察時(shí)的樣品需要處理得很薄。常用的方法:超薄切片法、冷凍超薄切片法、冷凍蝕刻法、冷凍斷裂法等。對(duì)于液體樣品,通常是掛預(yù)處理過(guò)的銅網(wǎng)上進(jìn)行觀察。
掃描電鏡主要用二次電子觀察形貌,成像原理如圖所示。在掃描電鏡中,電子槍發(fā)射出來(lái)的電子束,經(jīng)三個(gè)電磁透鏡聚焦后,成直徑為幾個(gè)納米的電子束。末級(jí)透鏡上部的掃描線圈能使電子束在試樣表面上做光柵狀掃描。試樣在電子束作用下,激發(fā)出各種信號(hào),信號(hào)的強(qiáng)度取決于試樣表面的形貌、受激區(qū)域的成分和晶體取向。設(shè)在試樣附近的探測(cè)器把激發(fā)出的電子信號(hào)接受下來(lái),經(jīng)信號(hào)處理放大系統(tǒng)后,輸送到顯象管柵極以調(diào)制顯象管的亮度。由于顯象管中的電子束和鏡筒中的電子束是同步掃描的,顯象管上各點(diǎn)的亮度是由試樣上各點(diǎn)激發(fā)出的電子信號(hào)強(qiáng)度來(lái)調(diào)制的,即由試樣表面上任一點(diǎn)所收集來(lái)的信號(hào)強(qiáng)度與顯象管屏上相應(yīng)點(diǎn)亮度之間是一一對(duì)應(yīng)的。因此,試樣各點(diǎn)狀態(tài)不同,顯象管各點(diǎn)相應(yīng)的亮度也必不同,由此得到的象一定是試樣狀態(tài)的反映。放置在試樣斜上方的波譜儀和能譜儀是用來(lái)收集X射線,借以實(shí)現(xiàn)X射線微區(qū)成分分析的。值得強(qiáng)調(diào)的是,入射電子束在試樣表面上是逐點(diǎn)掃描的,象是逐點(diǎn)記錄的,因此試樣各點(diǎn)所激發(fā)出來(lái)的各種信號(hào)都可選錄出來(lái),并可同時(shí)在相鄰的幾個(gè)顯象管上顯示出來(lái),這給試樣綜合分析帶來(lái)極大的方便。
透射掃描電鏡檢測(cè)生物學(xué)實(shí)驗(yàn)?介紹內(nèi)容
服務(wù)內(nèi)容 |
結(jié)果內(nèi)容 |
備注 |
TEM透射電鏡 |
提供5-8張圖片/樣和圖片分析 |
含超薄切片和樣本處理。特殊組織定位另算 |
SEM掃描電鏡 |
實(shí)驗(yàn)結(jié)果展示
客戶須知
電鏡標(biāo)本要求
1)透射電鏡需客戶提供1mm3 左右的組織塊,取材部位要求盡量精準(zhǔn)。
2)掃描電鏡,需客戶提供10*10*5mm大小的組織塊。
3)如為細(xì)胞,細(xì)胞數(shù)需≥106
實(shí)驗(yàn)周期
20個(gè)工作日內(nèi)(具體實(shí)驗(yàn)周期視實(shí)驗(yàn)設(shè)計(jì)方案而異)
透射掃描電鏡(Scanning Transmission Electron Microscope,STEM)是一種高級(jí)的電子顯微鏡,其采用了掃描隧道電子顯微鏡的技術(shù),可以用于觀察納米尺度的樣品。
15021202164
上海市楊浦區(qū)國(guó)康路100號(hào)2層
一鍵分享網(wǎng)站到: